濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)周期失敗原因查詢及對(duì)癥分析
2021-01-13 13:24 林頻儀器
濕熱試驗(yàn)箱選用觸摸屏式全智能儀表盤，可設(shè)置程序流循環(huán)系統(tǒng)試驗(yàn)，然而在試驗(yàn)過程中或者結(jié)束時(shí)有時(shí)你只有眼睜睜地看著失敗發(fā)生。為什么會(huì)這樣呢？，下邊對(duì)失效原因進(jìn)行剖析：
溫度循環(huán)系統(tǒng)地應(yīng)力主要參數(shù)：主要參數(shù)有6個(gè)：①限溫；②低限溫；③轉(zhuǎn)變速度；④限溫保溫時(shí)間；⑤低限溫保溫時(shí)間；⑥限溫頻率。
對(duì)地應(yīng)力場在溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用進(jìn)行了剖析，在地應(yīng)力場的溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)中，氣旋勻稱度是試驗(yàn)箱內(nèi)有害物品溫度轉(zhuǎn)變速度的重要參數(shù)。由此規(guī)定，當(dāng)對(duì)幾種實(shí)驗(yàn)品進(jìn)行額外的實(shí)驗(yàn)時(shí)，實(shí)驗(yàn)品中間、實(shí)驗(yàn)品與環(huán)境試驗(yàn)盒中的中間應(yīng)有適當(dāng)?shù)拈g隔，以便于氣旋在實(shí)驗(yàn)品、實(shí)驗(yàn)品與環(huán)境中自由循環(huán)。
溫度循環(huán)引起的地應(yīng)力失效原理及光敏電阻器：溫度循環(huán)使不同熱膨脹系數(shù)的不同原材料產(chǎn)生不同的熱脹冷縮狀態(tài)，導(dǎo)致其分離、開裂，其光敏電阻器如漆料涂層等。
溫度循環(huán)系統(tǒng)使連接不牢的接縫或鉚合不牢的接縫松弛，其感光電阻器如接縫、鉚合件等；
溫度循環(huán)使機(jī)械設(shè)備支撐不足的壓連接接頭松弛；高低溫試驗(yàn)交變環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)溫度循環(huán)使材料不良的纖焊回路電阻增大或引起導(dǎo)通，其光敏電阻如電阻元件等；
濕熱試驗(yàn)箱溫循環(huán)系統(tǒng)使接觸點(diǎn)浸漬及環(huán)境污染，其光敏電阻器如合金制品等。